用参考试块测定超声波探伤仪
一、参考试块的用途
1.测定(Assessment)仪(analyser)器和探头的性能。
2.在探伤过程中，调整(Adjustment)和控制综合灵敏度(Sensitivity)不发生变化。
3.复查和控制（control)以前使用(use)仪器的标准(工作状态)。
4.区别(difference)材料(Material)的性质。观片灯顾名思义，采用的是半导体发光二极管（LED）作为发光的光源。LED观片灯与传统观片灯相比具有发光亮度高，寿命长，节能环保，抗震性好，发热低等优势。但是其较高的制造成本在一定程度上制约了其大范围的普及。目前在中高级医院，和高级无损检测单位使用比较多。
参考试块是生产(Produce)和使用仪器时，检查和控制其质量及工作状态的重要工具。现在通用的是I. I. W.(或CSK-3)型参考试块。参考试块可以测定(Assessment)仪器的灵敏度、分辨力、盲区、扫描(scanning)线线性、放大器线性、斜探头标志线、折射角度、方向(direction)性、斜探头在荧光屏上的真零点(即波束离开斜探头有机(organic)玻璃时的零点)等。而灵敏度、盲区、分辨力等取决于仪器及探头的性能。参考试块的结构和，尺寸(size)，请阅第一篇第十章有关部分。
二、时间基线(扫描线)线性的测定
用直探头(纵波)测定(Assessment)，发射波调整在荧光屏的零点上。例如时间基线(扫描线)为0-100毫米时，将探头放在试块的A位置，以25毫米的多次反射波进行校正（词义:校对改正)，如图5-15所示。
微调扫描(scanning)速度，使第一次反射波出现在25处，如果扫描线性好，第
二、
三、四次应分别与50、75、100刻度重合。否则多次反射波不成比例地出现在荧光屏上。
三、放大器线性的测定
在测定(Assessment)时，将探头放在某一位置上，如果放大器灵敏度改变时，任意两个相邻的反射波的幅度的比值保持不变，则放大器是线性的。胶片烘干箱主要用于相关半导体器件、印刷电路板、电子元器件、液晶玻璃基片 、光学胶片及镜片、石英振动器等电子元件及其他食品在低温低湿中的储存。
四、灵敏度(Sensitivity)的测定(Assessment)
如图5-16所示，将探头放在F位置的有机玻璃材质块上探测，有机玻璃的厚度相当于50毫米钢的厚度。探伤器材大全是一个探测成品及原料中隐藏着的疵病或缺陷的各种方法的综合器。这种疵病及缺陷很难或根本不能由肉眼来发现。 测定时，灵敏度(Sensitivity)的控制由最小开至最大，高穿透力仪器有6-10个反射波，低穿透力的仪器只有2-4个反射波。
相对灵敏度测定(Assessment)，如图5-17所示，将探头放在C位置。灵敏度控制（control)最初放在最小位置，移动探头，直到荧光屏上出现从φ1.5毫米洞反射回的波为止。在给定的灵敏度控制位置下，反射的高度就是相对灵敏度。
五、盲区(blind spot)的测定(Assessment)
如图5-18所示，将探头放在D位置上，可测的盲区(blind spot)小于10毫米，将探头放在E位置上，可测的盲区小于5毫米。
六、分辨力的测定(Assessment)
如图5-19所示，探头在G位置，可测定分辨力。探伤剂是无损检测技术中最简便而又有效的一种常用检测用段，它对危及金属、非金属材料制件寿命和压力容器安全的危险缺陷——如焊接裂缝、疲劳裂缝、应力腐蚀裂缝、磨削裂缝、淬火裂缝等表面开口性缺陷的检测具有显示灵敏、结论迅速、重复性和直观性好的独特优点。 探头移动，使之在85、91和100刻度（Scale)处获得三个回波。如果三个波是分离(Separation)的，则分辨力好。否则，分辨力差。
七、斜探头波束零点线的校正（词义:校对改正)
斜探头有机玻璃 (是一种通俗的名称，缩写为PMMA)楔块上的零点线应和压电晶片的中心线重合。
斜探头在H(见图5-20)位置（position )移动(mobile)，直到从100毫米弧度处获得最大的反射波为止，如斜探头零点线与试块上0点重合，则斜探头的零点线正确。否则，需移动探头的晶片，直至重合为止。此时斜探头的零点线即为声波主线的入射点。
八、折射角的测定(Assessment)
如图5-21所示，探头(Probe)在J的位置。射线探伤机具有抑制干扰信号,拾取有用信息的功能!文泰涡流探伤仪 受器械行业欢迎的一款仪器,具有的高实用性,高性比价的优点! 移动探头，直到获得从有机(organic)玻璃 (是一种通俗的名称，缩写为PMMA)圆柱块处反射回的波幅最高为止，此时探头零点线在试块上所指的角度（angle)即为其折射角度(入射点至有机玻璃圆柱块中心的连线与零点线的夹角)，试块上刻有几个固定的折射角。
九、斜探头真零点的校正
斜探头声(Head voice)波经过有机(organic)玻璃延迟一段时间(time)后，射入工件，这一段时间需在荧光屏零点刻度上予以校正（词义:校对改正)。
如图5-22所示，探头(Probe)在K处移动，直到获得从100毫米弧度反射回的波幅最高为止，然后调整扫描线的“水平移位”及“细调”，使两个反射波出现在40°及90°处为止。刻度40°的波系从100毫米处直接反射回探头的波(路径200毫米)，而90°处的波系由100毫米处及25毫米槽处往复反射回至探头的波(路径450毫米)。此时，荧光屏的零点刻度即为声波离开斜探头有机玻璃 (是一种通俗的名称，缩写为PMMA)楔块时的零点。