一、直探头
1. 仪器设备设置：
(1) 基本主菜单
① 范围(fàn wéi)：根据工件的厚度确定
②
②声速为5920米/秒
(2) 斜探头主菜单
①探头角度（angle)为"0
2. 仪器设备校准
(1) 将探头偶合到CSK-ⅢA试块上，调节探头零点，无损检测(检查并测试)资源网 使一次底波和二次底波分别对应相对水平刻度（Scale)，此时探头零点显示值即为该值探头零点(如果不校准，一般设为0.8-09) 3.测量
①范围(fàn wéi)：当厚度较小时，一般范围为厚度的五倍;当厚度较大时范围为厚度的2倍
②如果材料(Material)厚度较大时，主要看始波与一次回波之间有没有超过标准的波或一次回波下降(descend)程度。
③如果材料(Material)厚度较小时，主要看一次回波与二次回波之间有没有超过标准的波或一次回波下降(descend)程度。有时需要看一次回波后面有无缺陷波
二、斜探头
1. 仪器设备设置
(1) 基本主菜单
① 范围(fàn wéi)：100
2. 仪器设备校准
① 将探头偶合到CSK-Ⅰ试块相应位置（position )，调节探头零点，使100圆弧和50圆弧反射波分别对应相应的水平刻度（Scale)，此时的探头零点显示值即为该斜探头零点，同时读出此时探头的前沿，记录并输入仪器设备
② 将探头偶合到K值校准位置（position )，找到最高波，如此时探头前沿对应的刻度（Scale)值与K 值吻合，则K值校准完毕，如偏差大于0.1，则该探头不再使用
3. 测量
(1)基本主菜单
①当使用一次波测量时，范围(fàn wéi)为≥ d²+k²d² ;当使用一次波测量时，范围(fàn wéi)为≥2 d²+k²d²
②声速为3230米/秒
③输入已经校正（词义:校对改正)的该探头延时
(2)斜探头主菜单
① 探头角度（angle)为"校准值"
② 厚度≧材料(Material)厚度
(2) 进行测量
①只要在相应的灵敏度(Sensitivity)下，有波出现即为伤波，同时根据DAC曲线（Curve）或计算法给缺陷定性定量