超声(Ultrasonic)波探伤仪(detector)探伤波形(Waveform) [已经被阅读7337次,管理(guǎn lǐ)员 添于2012-7-25]
超声(Ultrasonic)波（是一种频率高于20000赫兹的声波）在工件(Workpiece)中传播(spread)，遇到不同的介质(起决定作用的物质)界面(如缺陷(defect)、工件底面或侧面)时，均会产生反射或折射，有些反射波将在荧光屏上显示(display)出来，这就是探伤波形(Waveform)。反射波形(反射波的形状(shape)及高度)取决于反射面的性质、工件的形状及仪器设备(包括探头(Probe))的工作(gōng zuò)状态等。
探伤波形(Waveform)是判断(judgment)缺陷(defect)的依据(yī jù)。即由反射波的位置（position )确定缺陷的位置、由反射波的高度确定缺陷的大小、由反射波的形状(shape)估计缺陷的性质。因此，掌握(熟知并能运用) 超声(Ultrasonic)波（是一种频率高于20000赫兹的声波）的传播(spread)规律（rhythmical)和了解(Find out)影响(influence)波形的因素(factor)，正确的识别波形都是很重要的。
一、基本波形(Waveform)名称
基本波形(Waveform)的名称及含义：
发射波（T):发射的声波（如图a)
缺陷(defect)波（F):由缺陷处反射回的声波（如图a)
底波（B):由工件(Workpiece)底面反射回的声波（如图a)
侧面波（W):由工件(Workpiece)的侧面或其他异型轮廓的底部（沟槽（gōucáo)、油眼）反射回的声波（如图c)
界面波（S):由浸在液体(liquid)中的工件(Workpiece)表面反射回的声波
直通波（K):用两个直探头(Probe)或斜探头在工件(Workpiece)中的同一面或相对面探测时，接收探头收到的声波（如图d)
横孔反射波（H):从试块横孔处反射回的声波（如图g)
平底孔反射波（V):从试块平底孔处反射回的声波（如图f)
基本波形(Waveform)的符号如下图所示：
荧光屏上各种反射波与发射波之间的距离，代表声波从探头到反射面所往返的时间(time)，即代表探头与反射面的距离。磁粉探伤机是利用铁磁性材料被磁化后，由于不连续的存在，使工件表面和近表面的磁力线发生局部畸变而产生漏磁场（即磁感应线离开和进入表面时形成的磁场）吸附施加在工件表面的磁粉，形成在合适光照下目视可见的磁痕，从而显示出不连续性的位置、形状和大小。 射线胶片是为X射线照相而设计的照相胶片。大致分为直接摄影用(增感屏型和无增感屏型)和间接摄影用胶片两类。
二、导出波形(Waveform)
同一符号的波，产生在不同部位时(如缺陷(defect)波)，可在符号的右下角加
A、
B、
C、d...等。磁粉探伤机是利用铁磁性材料被磁化后，由于不连续的存在，使工件表面和近表面的磁力线发生局部畸变而产生漏磁场（即磁感应线离开和进入表面时形成的磁场）吸附施加在工件表面的磁粉，形成在合适光照下目视可见的磁痕，从而显示出不连续性的位置、形状和大小。 磁粉标准试片一种硬磁性的单畴颗粒。它与粘合剂、溶剂等制成磁浆，涂布在塑料或金属片基（支持体）的表面，就可制成磁带、磁盘、磁性卡片等磁记录材料。磁粉是磁性涂料的核心组成，是决定磁记录介质磁特性的主要因素。磁粉对磁记录材料的性质影响极大。同一符号的波，在同一部位产生多次反射时，(如底波B或缺陷(defect)波F),可在符号的右下角加1 、 2 、 3……等。
由工件(Workpiece)同一部位反射的声被，因传播(spread)路径不同或在边界波型转换，会产生迟到波，可在相应符号的右上角加“，”、““”一等。提升力试块用于验证便携式磁粉探伤仪提升力大小测试提升力的根本目的就在于检验磁轭导入工件有效磁通的多少实际探测时，荧光屏上的某些波形(Waveform)还不能解释，这是人们尚未掌握(熟知并能运用) 其规律（rhythmical)的缘故。