一、钢板探伤应用
数显超声(Ultrasonic)波（是一种频率高于20000赫兹的声波）探伤仪(detector)直探头(Probe)钢板探伤中主要以检测缺陷(defect)面积为主，因此要求操作控制人员(personnel)对缺陷进行判别和定量。
（一）探测范围(fàn wéi)的调整(Adjustment)
探测范围(fàn wéi)的调整(Adjustment)一般根据板厚来确定。接触(contact)法探伤板厚30mm以下时，应能看到B10，探测范围调至300mm左右。板厚在30-80mm，应能看到B5，探测范围为400mm左右。板厚大于80mm，可适当最大化减少底波的次数，但探测范围仍保证在400mm左右。
（二）灵敏度的调整(Adjustment)
在本仪器设备中以平底孔试块法为例讲解(jiǎng jiě)仪器调节(adjust)方法(method)：当厚板＞20mm时，使用下图中平底孔试块的ø5平底孔第一次回波达50%作为探伤灵敏度。
将探头(Probe)放在平底孔试块上，移动(mobile)探头找出ø5平底孔的最大回波，按 键，使 栏反显，再按左右键调节(adjust)增益数值，将第一次反射回波调节到满刻度（Scale)的50%高度，此时的增益读数为探伤灵敏度(Sensitivity)、然后将探头放置在待测钢板上进行扫查。
当板厚≤20可直接在待测钢板上找出第一次底波，并将其调整(Adjustment)到50%高度，再按增益键，提高10dB作为探伤灵敏度(Sensitivity)。探伤器材大全是一个探测成品及原料中隐藏着的疵病或缺陷的各种方法的综合器。这种疵病及缺陷很难或根本不能由肉眼来发现。
（三）缺陷(defect)的判别与测定(Assessment)
① 缺陷的判别
在探伤过程(guò chéng)中，观测屏幕上的波形，根据缺陷(defect)波和底波来判别钢板中的缺陷情况，确定以下几种情况作为缺陷。增感屏按用途可分为医用、牙科用和工业用两种，工业用的主要是铅箔增感屏和不锈钢增感屏，用于工业无损检测。
（1）缺陷(defect)第一次反射波F1≥50%
（2）第一次底波B1＜100%,第一次缺陷(defect)波F1与第一次底波B1之比F1/B1≥50%。磁粉标准试片一种硬磁性的单畴颗粒。它与粘合剂、溶剂等制成磁浆，涂布在塑料或金属片基（支持体）的表面，就可制成磁带、磁盘、磁性卡片等磁记录材料。磁粉是磁性涂料的核心组成，是决定磁记录介质磁特性的主要因素。磁粉对磁记录材料的性质影响极大。
（3）第一次底波B1＜50%
②缺陷的测定(Assessment)
探伤中发现缺陷以后，要测定(Assessment)缺陷的位置（position )、大小、并估判缺陷性质。磁粉探伤机是利用铁磁性材料被磁化后，由于不连续的存在，使工件表面和近表面的磁力线发生局部畸变而产生漏磁场（即磁感应线离开和进入表面时形成的磁场）吸附施加在工件表面的磁粉，形成在合适光照下目视可见的磁痕，从而显示出不连续性的位置、形状和大小。
缺陷(defect)定量：钢板中缺陷常用采用测长法测定(Assessment)其指示长度和面积。JB/T4730-2005规定(guī dìng)：
当F1≥50%或F1 / B1≥50%（B1＜100%=时，使F1达25%或F1 / B1达50%时探头(Probe)中心移动距离为缺陷(defect)指针长度(length)，探头中心轨迹即为缺陷边界）。
当B1＜50%时，使B1达50%时探头中心移动(mobile)距离为缺陷指示长度(length)，探头中心轨迹即为缺陷边界。胶片烘干箱主要用于相关半导体器件、印刷电路板、电子元器件、液晶玻璃基片 、光学胶片及镜片、石英振动器等电子元件及其他食品在低温低湿中的储存。
当扫查过程(guò chéng)中发现了符合上述情况(Condition)的时候，拿起探头(Probe)，用记号笔在钢板上画上记号作为一个边界点，然后再依次类推，找出其它的边界点（大约八个点就足以确定缺陷(defect)的面积了）。
缺陷位置的测定(Assessment)：根据发现缺陷的探头(Probe)位置来确定，并在工件上作标记，然后测量出缺陷距钢板左边的最小距离L1、距钢板下边的最小距离L2，缺陷的最大指示长度(length)L3并算出缺陷面积。如下图所示：
将所测数值依次填入表内：
编号
L1
（mm）
L2（mm）
L3（mm）
S1（mm）
对任意1*1面积的百分比（%）
评级
备注
1
2