这是因为缺陷(defect)定量的依据(yī jù)是缺陷(defect)反射声压的高低。探伤器材大全是一个探测成品及原料中隐藏着的疵病或缺陷的各种方法的综合器。这种疵病及缺陷很难或根本不能由肉眼来发现。 磁粉标准试片一种硬磁性的单畴颗粒。它与粘合剂、溶剂等制成磁浆，涂布在塑料或金属片基（支持体）的表面，就可制成磁带、磁盘、磁性卡片等磁记录材料。磁粉是磁性涂料的核心组成，是决定磁记录介质磁特性的主要因素。磁粉对磁记录材料的性质影响极大。胶片烘干箱主要用于相关半导体器件、印刷电路板、电子元器件、液晶玻璃基片 、光学胶片及镜片、石英振动器等电子元件及其他食品在低温低湿中的储存。增感屏按用途可分为医用、牙科用和工业用两种，工业用的主要是铅箔增感屏和不锈钢增感屏，用于工业无损检测。超声波探伤仪是一种便携式工业无损探伤仪器，它能够快速、便捷、无损伤、精确地进行工件内部多种缺陷（裂纹、疏松、气孔、夹杂等）的检测、定位、评估和诊断。既可以用于实验室，也可以用于工程现场。广泛应用在锅炉、压力容器、航天、航空、电力、石油、化工、海洋石油、管道、军工、船舶制造、汽车、机械制造、冶金、金属加工业、钢结构、铁路交通、核能电力、高校等行业。 影响(influence)缺陷波高最大因素(factor)在于缺陷自身：光滑平面缺陷可以形成镜面(jìng miàn)反射，缺陷回波高；粗糙(cū cāo)表面(appearance)则产生漫反射和波的干涉现象，缺陷回波低；声波垂直入射缺陷表面(appearance)时缺陷回波最高，随入射角的增大缺陷波急剧下降(descend)，倾斜2.5°时，波幅下降(descend)1/10倾斜12°时，下降(descend)至1/1000， 此时仪器设备已不能检出缺陷；同尺寸(size)、同位置（position )、不同形状(shape)的缺陷回波不同，相同条件(tiáo jiàn)下球孔回波声压比平底孔小波长/4dB。缺陷性质的影响(influence)取决于界面两侧介质(起决定作用的物质)的声阻抗，当两侧介质(起决定作用的物质)声阻抗差异较大时， 近似地认为是全反射，反射声波强；当差异较小时，就有一部分声波透射（tòu shè），反射声波变弱。另外，缺陷厚度、缺陷位置（position )等对缺陷回波都有很大影响。反之，回波声压相同的缺陷实际大小 也可能（maybe)相差很大，目前的检测(检查并测试)技术(technology)还难以反映缺陷的真实状况， 故缺陷定量常采用当量评定(assessment)法。当量评定(assessment)法是将缺陷的回波与规则(rule)形状(shape)人工射体的回波幅度进行比较，如果两者的埋深相同、反射波高相等， 则称该人工反射体的反射尺寸(size)为缺陷的当量尺寸。而对于有一定尺寸的缺陷，边界界定又分为绝对灵敏度(Sensitivity)法和相对灵敏度(Sensitivity)法，所以测定(Assessment)的缺陷指示长度(length)、 指示面积，并不是缺陷的实际长度(length)和实际面积，当量尺寸与缺陷实际尺寸会存在一定的偏差。
