圆棒材的超声(Ultrasonic)波探伤方法(method)解析（analysis 剖析；深入分析)
棒材中常见的缺陷(defect)除在注锭阶段潜伏的缩残、气泡、白点、夹杂等缺陷外，在开坯初轧成形等塑性加工(Processing)过程(guò chéng)中，还会产生过烧、粗晶、折迭(dié)、翅皮、裂纹等缺陷。超声波探伤仪是一种便携式工业无损探伤仪器，它能够快速、便捷、无损伤、精确地进行工件内部多种缺陷（裂纹、疏松、气孔、夹杂等）的检测、定位、评估和诊断。既可以用于实验室，也可以用于工程现场。广泛应用在锅炉、压力容器、航天、航空、电力、石油、化工、海洋石油、管道、军工、船舶制造、汽车、机械制造、冶金、金属加工业、钢结构、铁路交通、核能电力、高校等行业。 棒材中的缺陷一般以纵向居多。
探测大直径(大于80毫米)的棒材时，探测频率(frequency)一般选用2.5兆赫;探测中直径(40~80毫米)及小直径(小于40毫米)的棒材时，选用5兆赫以上。探测直径较大的棒材，可用纵波接触(contact)法，而直径小的棒材或自动(automatic)探测时，可采用液浸法。为提高(发现缺陷(defect)的能力，通常采用液浸法聚焦(Focused)探头(Probe)。
一、纵波和横波探测
采用纵波液浸法探测棒材时，探头(Probe)固定(fixed)在可调节(adjust)的 ;V ;形槽架上，将探头架置于与棒材直径相同、并具有人工缺陷(defect)的参考样棒上，调节探头使声波主线垂直于人土孔平面(缺陷波最高)，并调节探头与棒材表面(appearance)的液体(liquid)厚度，使第二次界面波出现在底波之后，然后将探头架移至被测棒材上，沿长度(length)方向(direction)进行探测，每探测一次后，将探头与棒材相对移动(mobile)40°~ 50°圆周角，再进行探测。磁粉探伤机是利用铁磁性材料被磁化后，由于不连续的存在，使工件表面和近表面的磁力线发生局部畸变而产生漏磁场（即磁感应线离开和进入表面时形成的磁场）吸附施加在工件表面的磁粉，形成在合适光照下目视可见的磁痕，从而显示出不连续性的位置、形状和大小。 一般探测3~4次即可。若棒材中有缺陷，则在第一次界面波与第一次底波间出现缺陷波。为使声能集中，最大化减少声波在棒材上的散射，常将焦点（比喻事情的关键所在)聚在棒材圆心处或圆心以上。还可用横波和表面波探测，这里不再介绍(Introduce)。
二、自动(automatic)探测
探测前，应作静态和动态调试。探伤器材大全是一个探测成品及原料中隐藏着的疵病或缺陷的各种方法的综合器。这种疵病及缺陷很难或根本不能由肉眼来发现。 首先将八个探头(Probe)在参考样棒上依次调整(Adjustment)，使其灵敏度(Sensitivity)一致，然后再作八通道探头(Probe)的自动(automatic)传递（transmission)调试，当八个探头(Probe)对人工缺陷(defect)依次扫查时，如荧光屏上依次出现缺陷波，并予报警(Call the police)，则静态调试完毕。然后再作动态调试，参考样棒以20---30米/>91的速度通过(tōng guò)探头(Probe)架，若缺陷报警分辨清楚，无杂波进入报警波门，发现缺陷后能自动在缺陷处打印标记并能自动分选，藕合油无气泡等，此时，高速(gāo sù)旋转(Rotating)参考样棒往返多次，确认各部件均处于稳定（解释:稳固安定；没有变动)工作(gōng zuò)状态时，则动态调试完毕。为确保探伤结果(result)正确可靠，应定时地用参考样棒进行校验。
三、其他方法(method)
棒材(直径为20~60毫米)尚可用组合双探头(Probe)探测，组合双探头，由两块晶片组成(一发、一收)，两晶片互成角度（angle)放在与棒材曲面相吻的有机(organic)玻璃材质块上，其夹角以85°95°为佳(两晶片中心与棒材中心连线的夹角)。观片灯顾名思义，采用的是半导体发光二极管（LED）作为发光的光源。LED观片灯与传统观片灯相比具有发光亮度高，寿命长，节能环保，抗震性好，发热低等优势。但是其较高的制造成本在一定程度上制约了其大范围的普及。目前在中高级医院，和高级无损检测单位使用比较多。胶片烘干箱主要用于相关半导体器件、印刷电路板、电子元器件、液晶玻璃基片 、光学胶片及镜片、石英振动器等电子元件及其他食品在低温低湿中的储存。由于发射晶片的声束以某一扩散角度入射棒内，故棒内即有纵波，又有折射横波，这样，可探测棒材中心及近边缘的缺陷(defect)。