探伤仪(detector)纵波直探头(Probe)如何调校
1、纵波直探头(Probe)的零点测试（TestMeasure)
1) 开机后按【探伤调节(adjust)】→【探头(Probe)参数(parameter)】 键，将【探头类型】用“+”/ “—”键调整(Adjustment)为直探头，并按照探头上的标示依次将【晶片尺寸(size)】（乘号用小数点代替）、【探头频率】、【探头K值】或【探头角度（angle)】设置(Settings)正确，将探头与仪器设备连接好。射线胶片是为X射线照相而设计的照相胶片。大致分为直接摄影用(增感屏型和无增感屏型)和间接摄影用胶片两类。
（注：探头(Probe)类型改成直探头后，【探头K值】和【探头角度（angle)】自动(automatic)默认为0）
2) 按【探伤调节(adjust)】→【声速设定】，选择(xuanze)【钢直声速】,5900m/s
3) 按【探伤调节(adjust)】→【零点调节】，将【一次声程】设置(Settings)为“100mm”，巡查【声速】是否为：5900m/s；
将直探头放在CSK-IA试块上，移动(mobile)探头寻找最高回波后，按【探伤调节(adjust)】→【零点调节】→【零点测试（TestMeasure)】键，稳住探头不动，屏幕的系统(system)区出现“测试成功(success)”，即完成直探头零点调校。胶片烘干箱主要用于相关半导体器件、印刷电路板、电子元器件、液晶玻璃基片 、光学胶片及镜片、石英振动器等电子元件及其他食品在低温低湿中的储存。磁粉探伤机是利用铁磁性材料被磁化后，由于不连续的存在，使工件表面和近表面的磁力线发生局部畸变而产生漏磁场（即磁感应线离开和进入表面时形成的磁场）吸附施加在工件表面的磁粉，形成在合适光照下目视可见的磁痕，从而显示出不连续性的位置、形状和大小。
2、纵波直探头(Probe)在CS-1-5试块上的AVG曲线（Curve）制作：
1) 按【AVG曲线（Curve）】→【平底孔】方法(method)制作(Making)曲线，将【孔深度】设置(Settings)为200mm,【孔直径】设置为Ф2mm，【孔当量1】设置为Ф3mm，【波高】设置为50%
2) 将探头(Probe)放在CS-1-5试块上，压紧探头，找到200mm孔深的最高波，此时按【AVG曲线（Curve）】→【平底孔】→【测量(cè liáng)】键，按照屏幕提示：稳住探头，等待最高波降到50%，【回车】键确认后，AVG曲线就制作(Making)完成了。此时屏幕上会显示(display)出两条AVG曲线：一条代表【孔直径】Ф2mm的曲线，另外一条代表【孔当量1】Ф3mm的曲线。直探头探伤过程(guò chéng)中，缺陷(defect)波会以这两条曲线为标准(biāo zhǔn)，显示出模拟(定义:对真实事物或者过程的虚拟)的当量大小，并在左边的数值区显示出当量Ф值。
3) 注：如果使用(use)【AVG曲线（Curve）】→【大平底】方法(method)制作曲线，需要将【平底深】设置(Settings)为225mm，【孔当量1】设置为Ф2mm，【孔当量2】设置为Ф3mm，【波高】设置为50%；将探头(Probe)放在CS-1-5试块上，压紧探头，找到225mm大平底的最高波，此时按【AVG曲线】→【大平底】→【测量(cè liáng)】键，按照屏幕提示：稳住探头，等待最高波降到50%，【回车】键确认后，大平底AVG曲线就制作完成了。磁粉标准试片一种硬磁性的单畴颗粒。它与粘合剂、溶剂等制成磁浆，涂布在塑料或金属片基（支持体）的表面，就可制成磁带、磁盘、磁性卡片等磁记录材料。磁粉是磁性涂料的核心组成，是决定磁记录介质磁特性的主要因素。磁粉对磁记录材料的性质影响极大。射线胶片是为X射线照相而设计的照相胶片。大致分为直接摄影用(增感屏型和无增感屏型)和间接摄影用胶片两类。 此时屏幕上会显示(display)出两条AVG曲线：一条代表【孔当量1】Ф2mm的曲线，另外一条代表【孔当量2】Ф3mm的曲线。
CS-1-5试块图形：