脉冲反射法探伤
一、脉冲反射法
脉冲反射法是当脉冲超声(Ultrasonic)波（是一种频率高于20000赫兹的声波）入射至被测工件(Workpiece)后，声波在工件内的反射状况，就会显示(display)在荧光屏上，根据反射波的时间(time)及形状(shape)，来判断(judgment)工件内部缺陷(defect)及材料(Material)性质的方法(method)。其探伤原理(yuán lǐ)，是当超声波在工件内传播(spread)到有声阻抗差异的界面上(如缺陷与工件的界面)时，产生反射。其方法，根据入射声波的波型不同，可分为纵波、横波、表面波及兰姆波探伤法等四种。
(一)纵波探伤法
纵波探伤法，是当超声(Ultrasonic)波（是一种频率高于20000赫兹的声波）波束垂直或倾斜入射(倾斜角不大于临界角)被测工件(Workpiece)，进行探伤的方法(method)。
1.一次脉冲反射法
一次脉冲反射法是以一次底波为依据(yī jù)进行探伤的方法(method)。射线探伤机具有抑制干扰信号,拾取有用信息的功能!文泰涡流探伤仪 受器械行业欢迎的一款仪器,具有的高实用性,高性比价的优点! 提升力试块用于验证便携式磁粉探伤仪提升力大小测试提升力的根本目的就在于检验磁轭导入工件有效磁通的多少其原理是脉冲波发生器产生的高频电脉冲(发射波)，加在探头(Probe)和放大器上，激励(Excitation)压电晶片振动(vibration)，使之产生超声(Ultrasonic)波。超声波（是一种频率高于20000赫兹的声波）以一定的速度向工件内部传播，一部分声波遇到缺陷(defect)(F)时反射回来;另一部分声波继续传至工件底面(B)后，也反射回来，由缺陷及底面反射回来的声波被探头接收时，又变为电脉冲波。发射波(T)、缺陷波(F)及底波(B)经放大器后，在荧光屏上显示(display)，如下图所示。荧光屏上的水平(Level)亮线为扫描(scanning)线(时间(time)基线)，其长度与时间成正比。
由发射波、缺陷(defect)波及底波在扫描(scanning)线上的位置（position )，即可求出缺陷的位置。超声波探伤仪是一种便携式工业无损探伤仪器，它能够快速、便捷、无损伤、精确地进行工件内部多种缺陷（裂纹、疏松、气孔、夹杂等）的检测、定位、评估和诊断。既可以用于实验室，也可以用于工程现场。广泛应用在锅炉、压力容器、航天、航空、电力、石油、化工、海洋石油、管道、军工、船舶制造、汽车、机械制造、冶金、金属加工业、钢结构、铁路交通、核能电力、高校等行业。 由缺陷波的幅度，可判断缺陷的大小(缺陷面积大时，幅度高);由缺陷波的形状(有时需移动(mobile)探头(Probe)，观察(Observed)缺陷波的变化)，结合冶炼金属工艺(Technology)特点，可分析(Analyse)缺陷的性质。当缺陷面积大于声束截面时，声波全部由缺陷处反射回来，荧光屏上只有发射波(T)及缺陷波(F)而无底波(B)，如图2-13所示。当工件(Workpiece)中无缺陷时，荧光屏上只有发射波(T)及底波(B}，如图2-14所示。
2.多次脉冲反射法
多次脉冲反射法是以多次底波为依据(yī jù)，进行探伤的方法。探伤器材大全是一个探测成品及原料中隐藏着的疵病或缺陷的各种方法的综合器。这种疵病及缺陷很难或根本不能由肉眼来发现。 声波由底部反射回至探头(Probe)时，一部分声波被探头接收，另一部分声波又折回底部，这样往复反射，直至声能全部衰减（attenuation）完为止，若工件(Workpiece)中无缺陷时，则荧光屏上出现呈指数曲线递减的多次反射底波，如图2-15
所示。当工件内有吸收性缺陷(defect)(如疏松等)时，声波在缺陷处的衰减（attenuation）很大，底波反射的次数减少，甚至消失，以此判断(judgment)有无缺陷及严重程度。当工件为板材(Sheet wood)时，为了观察方便(，一般常用多次脉冲反射法探测，无缺陷时，底波反射次数多，有缺陷时，底波反射次数少，且在底波之间夹有缺陷波。当缺陷面积甚大时(非吸收性缺陷)，只有缺陷的多次反射波，而无底波。
用纵波探测时，有时也可用组合双探头，一个探头(T)发射声波，一另一个探头(R)接收声波。暗室红灯可以保证射线胶片在切装和冲洗处理过程中不被感光的前提下提供暗室照明
单探头法因为发射波直接加到放大器上，使放大器“阻塞”，不易发现近距离的缺陷(defect)。用双探头单收、单发法探测时，可改善“阻塞”现象，减少盲区(blind spot)。有时，可将两个晶片装在一个探头内，作发射及接收声波之用。