超声(Ultrasonic)波（是一种频率高于20000赫兹的声波）探伤仪(detector)横波斜探头(Probe)的校准(calibration)步骤（procedure)〔手动校准方法(method)〕
1．输入材料(Material)声速：3230m/s
2. 探头(Probe)前沿校准(calibration)
（1）如图1所示，将探头(Probe)放在CSK－IA标准(biāo zhǔn)试块的0位上
（2）前后移动(mobile)探头(Probe)，使试块R100圆弧面的回波幅度最高，回波幅度不要超出屏幕，否则需要减小增益。观片灯顾名思义，采用的是半导体发光二极管（LED）作为发光的光源。LED观片灯与传统观片灯相比具有发光亮度高，寿命长，节能环保，抗震性好，发热低等优势。但是其较高的制造成本在一定程度上制约了其大范围的普及。目前在中高级医院，和高级无损检测单位使用比较多。
（3）当回波幅度达到最高时，保持探头(Probe)不动，在与试块 ;0 ;刻度（Scale)对应的探头侧面作好标记，这点就是波束的入射点，从探头刻度尺上直接读出试块 ;0 ;刻度所对应的刻度值，即为探头的前沿值。（或用刻度尺测量(cè liáng)图1所示L值，前沿x=100-L。）， 将探头前沿值输入 ;探头 ;功能(gōng néng)内的 ;探头前沿 ;中，探头前沿测定(Assessment)完毕。
（图1）CSK-IA试块校测零点和前沿示意图
3．探头(Probe)零点的校准(calibration)
按图1的方法(method)放置探头(Probe)，用闸（zhá)门套住最高波，调整(Adjustment)探头零点
此时，保持探头(Probe)位置（position )不动，用闸（zhá)门套住R100圆弧的反射波，调整(Adjustment)基本功能(gōng néng)组中的 ;探头(Probe)零点 ;的数值，直到声程S=100为止， ;探头(Probe)零点 ;调整完毕。
4．探头(Probe)K值校准(calibration)(折射角的校准)
由于被测物的材料品质和楔块的磨损（零部件失效的一种基本类型）会使探头(Probe)的实际K值与标称值有一些偏差。磁粉探伤机是利用铁磁性材料被磁化后，由于不连续的存在，使工件表面和近表面的磁力线发生局部畸变而产生漏磁场（即磁感应线离开和进入表面时形成的磁场）吸附施加在工件表面的磁粉，形成在合适光照下目视可见的磁痕，从而显示出不连续性的位置、形状和大小。 因此需要测定(Assessment)探头的实际K值。校准(calibration)步骤（procedure)如下：
（1）如图2将探头(Probe)放在CSK－IA标准(biāo zhǔn)试块的适当的角度（angle)标记上。暗室红灯可以保证射线胶片在切装和冲洗处理过程中不被感光的前提下提供暗室照明
（2）前后移动(mobile)探头(Probe)，找到试块边上大圆孔的回波波峰时，保持探头不动。探伤器材大全是一个探测成品及原料中隐藏着的疵病或缺陷的各种方法的综合器。这种疵病及缺陷很难或根本不能由肉眼来发现。
（3）在试块上读出入射点与试块上对齐的K值，这个角度（angle)为探头(Probe)的实际K值，（或者通过(tōng guò)计算斜率校准(calibration),见下图2），将此值输入 ;探头 ;功能(gōng néng)组中的 ;K值 ;。射线胶片是为X射线照相而设计的照相胶片。大致分为直接摄影用(增感屏型和无增感屏型)和间接摄影用胶片两类。